Véletlen Elérési Idő Teszt

Ezzel a teszttel megvizsgálható a merevlemez zajszintje, elérési ideje és hőmérsékletének változása, különösen hosszantartó és komoly megterhelés mellett.

A teszt különösen alkalmas az akuszikai szint módosítása után a megváltozott zajszint és sávraállási idő (melyeket befolyásol a merevlemez akusztikai beállítása) ellenőrzésére. Ilyen esetben egy rövidebb időtartamú teszt is elegendő.

A teszt segítségével megvizsgálható, hogy a merevlemez hogyan reagál hosszabb ideig tartó nagyobb terhelésre, változik-e annak teljesítménye illetve milyen mértékben emelkedik meg az üzemi hőmérséklet. Ez a nyugalmi állapothoz képest akár 10-15 Celsius fokot is jelenthet, így ha a merevlemez a teszt indítása előtt is már magas hőmérsékleten üzemel, érdemes a tesztet felügyelet mellett indítani és kritikus hőmérséklet elérésekor azt leállítani.

A teszt javasolt végrehajtása: új merevlemez beüzemelésekor, extrém terhelés és hőmérséklet szint tűrésének tesztjére. Ilyenkor 8 órás vagy még hosszabb időtartamú tesztelés is elképzelhető.

A teszt akkor is használható, ha a hardver önteszt hibával leáll illetve nem támogatott a merevlemez által. A teszt nem veszélyes a tárolt adatokra, csak az író-olvasó fej véletlen helyre pozícionálása történik meg a kiválasztott időtartamú teszt alatt.

Megjegyzés: a nem regisztrált változatban csak a legrövidebb (2 perces) teszt használható és az is csak egyetlen alkalommal, egy meghajtón.

Véletlen elérési idő teszt